《纳米数字集成电路老化效应》下载

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图书名称: 纳米数字集成电路老化效应
封面图片:
出版印刷时间: 2012-6
出版社: 清华大学出版社
图书作者: 靳松,韩银和 著
文件格式: PDF
13位ISBN: 9787302285434
10位ISBN: 7302285438
字数: 156000
页数: 108
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