《微纳米MOS器件可靠性与失效机理》下载
《微纳米MOS器件可靠性与失效机理》PDF下载
| 图书名称: | 微纳米MOS器件可靠性与失效机理 | |||
| 封面图片: |
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| 出版印刷时间: | 2008-3 | |||
| 出版社: | 科学出版社 | |||
| 图书作者: | 郝跃，刘红侠 著 | |||
| 文件格式: | ||||
| 13位ISBN: | 9787030205865 | |||
| 10位ISBN: | 7030205863 | |||
| 页数: | 446 | |||
| 图书标签: | 无 | |||
| 下载地址: | 微纳米MOS器件可靠性与失效机理PDF格式下载 | |||
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| 查看详细: | 微纳米MOS器件可靠性与失效机理 | |||
| 图书名称: | 微纳米MOS器件可靠性与失效机理 | |||
| 封面图片: |
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| 出版印刷时间: | 2008-3 | |||
| 出版社: | 科学出版社 | |||
| 图书作者: | 郝跃，刘红侠 著 | |||
| 文件格式: | ||||
| 13位ISBN: | 9787030205865 | |||
| 10位ISBN: | 7030205863 | |||
| 页数: | 446 | |||
| 图书标签: | 无 | |||
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