SOC测试

出版时间：2012-1  出版社：西安交通大学出版社  作者：雷绍充  页数：257  

内容概要

本书系统化介绍SOC测试方法与结构，主要内容包括SOC测试的原理和标准，扫描测试与内建自测试，软件自测试，测试压缩，低功耗测试，延迟测试，模拟与混合电路测试，RF电路测试，SOC与NOC测试。
本书既可作为高等院校电子与信息、计算机科学与技术和电气工程类高年级学生和研究生的专业课教材，也可作为从事集成电路设计、制造、测试、应用、EDA和ATE专业人员的参考用书。

书籍目录

第1章 简介
 1.1 SOC测试的重要性
 1.2 SOC测试一些标准
 1.2.1 边界扫描(IEEEll49.1)
 1.2.2 IEEE ll49.6
 1.2.3 模拟与混合信号电路边界扫描标准IEEE Pll49.4
 1.2.4 IEEE Pl500
 1.2.5 IEEE Pl687
 参考文献
第2章 扫描测试与内建自测试
 2.1 基本的扫描设计结构
 2.1.1 基于多路选择器一D触发器的扫描设计
 2.1.2 带时钟的扫描设计
 2.1.3 电子敏感扫描设计
 2.1.4 增强的扫描设计
 2.2 低功耗扫描设计结构
 2.2.1 多相或多序低功耗扫描设计
 2.2.2 通带宽度匹配的低功耗扫描设计
　2.3 实速扫描设计
　2.4 逻辑内建自测试
 2.4.1 测试图形生成电路
 2.4.2 测试响应压缩
 2.4.3 逻辑内建自测试结构
 2.4.4 低功耗BIST结构
　2.5 实速逻辑BIS了
 2.5.1 单捕获
　　……
第3章　SOC测试与NOC测试
第4章　测试压缩
第5章　延迟测试
第6章　低功耗测试
第7章　模拟与混合信号测试
第8章　射频电路测试
第9章　基本软件的自测试
附录