数字电子技术基础实验

出版时间：2004-1-1  出版社：第1版 (2004年1月1日)  作者：杨刚  页数：162  字数：269000  

内容概要

本教材是根据高等院校理工科本科的数字电子技术实验课程基本要求编写的。书中实验内容丰富，包含原理性、验证性实验和设计性实验，具有实物实验与以Multisim 2001为代表EDA设计仿真实验紧密结合的特点，并含有可编程逻辑器件设计实验。书后附录部分包含内容详细的Multisim 2001的使用指南，并附有实验中常用的数字器件引脚图和逻辑功能表，供读者查阅。本书可作为高等院校电类和非电类专业本科生、专科生教材，亦可作为电视大学、职业大学、业余大学以及远程教育、网络教育中的电类和非电类专业的电子技术实验教学用书

书籍目录

实验一  TTL和CMOS门电路参数的测试实验二  基本门电路逻辑功能验证实验三  OC门和三态门的应用实验四  编码器和译码器实验五  数据选择器实验六  组合逻辑电路的应用实验七  触发器实验八  寄存器实验九  数值比较器实验十  CMOS器件功能测试实验十一  计数器实验十二  半加器和全加器的逻辑功能验证实验十三  逻辑电路的竞争冒险现象实验十四  脉冲的产生与整形实验十五  555定时器功能及应用实验十六  存储器实验十七  数模转换器实验十八  模数转换器实验十九  用PLD实现74LS138功能实验二十  用PLD实现74LS90功能 附录A  Multisim 2001使用指南 附录B  NET-lI数字实验系统的结构及使用说明 附录C  数字集成电路引脚排列图