智能机内测试理论与应用

出版时间：2002-1-1  出版社：第1版 (2002年1月1日)  作者：温熙森,易晓山,徐永成,陈循  页数：217  字数：182000  

内容概要

机内测试是一种能显著改善装备或系统测试性与诊断能力的重要技术手段。采用BIT技术研制开发复杂机电系统和装备，能大幅度提升装备系统的整体性能。近年来，国外开始重点研究BIT中的智能理论与方法以进一步提高BIT的综合效能。智能BIT目前正逐步在多个领域得到验证，应用前景广阔。    本书在综述国内外BIT技术研究应用发展的基础上，系统阐述了智能BIT的理论、技术、方法，重点就BIT的智能设计、智能检测、智能故障诊断和智能维修决策等四个方面的理论、技术和国内外最新应用实例进行了分析和论述。    本书是国内第一部较为全面、系统地论述智能BIT理论和技术的专著，对提高新型武器装备和复杂机电系统的测试性、维修性设计水平具有重要的指导作用，适合从事装备系统设计和可靠性工程研究应用的工程技术人员及相关专业的大专院校师生阅读、参考。

书籍目录

第一章 机内测试技术  BIT的由来  BIT的历史  参考文献第二章 常规BIT技术基础  通用的BIT技术  数字BIT技术  模拟BIT技术  参考文献第三章 智能BIT几个基本问题  智能BIT的发展动因  智能BIT的概念  智能BIT主要内涵和作用  智能BIT的基本实现方式  参考文献第四章 BIT的智能设计技术  概述  BIT智能设计的知识表示  测试性知识的获取  测试方案求解及最优诊断树的生成  BIT计算机辅助设计技术  本章小结  参考文献第五章 智能BIT中的新型检测技术——边界扫描技术  智能BIT中的各种检测技术基础  边界扫描技术基础  基于边界扫描的电路板测试性设计技术  基于边界扫描的智能板级BIT结构与实现  本章小结  参考文献第六章 基于神经网络的BIT智能故障诊断  BIT智能故障诊断理论与技术  神经网络理论与技术的发展  神经网络在BIT故障诊断中的应用实例分析  基于ART2的BIT系统无监督故障诊断理论与应用  参考文献第七章 BIT 决策专家系统  BIT智能决策的理论与技术  专家系统概述  BIT综合决策与维修专家系统  BIT决策专家系统的发展展望  参考文献第八章 智能BIT理论、技术的发展参考文献缩略语索引

用户评论 (总计1条)

•   BIT，说了多少年，有多少人能做好？