微型计算机测控技术

出版时间：1900-01-01  出版社：机械工业出版社  作者：李贵山编  

内容概要

本书从实用角度出发，以MCS—5l系列单片机为控制工具，全面系统地讲述了微机在工业过程测试和控制中的软、硬件技术。主要内容有：微机测控系统的组成、分类及发展；检测技术的基本知识与误差理论；常用传感器与应用技术；基本I／O接口技术；输入／输出通道接口技术；常用检测程序的设计与实现；PID控制；直接数字控制；干扰及抑制技术；微机测控系统的工程设计方法及实例等。 
    本书在总结教学改革经验的基础上，将传感器原理和计算机控制技术两门课程合二为一，并针对该课程实践性很强的特点，在选材上力求保证基础、突出重点、注重应用、培养能力，具有系统性、先进性和应用性等特点。 
    本书可作为高职高专院校、成人高校及本科院校举办的二级职业技术学院和民办高校工业电气自动化、测控技术与仪器、机电一体化、计算机应用等专业的教材，也适合从事工业测控及自动化工作的工程技术人员学习与参考。