金硅面垒型探测器

出版时间：2008-11  

内容概要

《金硅面垒型探测器(GB/T 13178-2008)》参考了IEC 60333：1993《核仪器半导体带电粒子探测器测试程序》。本标准代替GB／T 13178—1991《金硅面垒型探测器》（以下简称原标准）。本标准保留GB／T 13178—1991的大部分内容，对其的主要修改如下：增加前言；引用新的规范性文件；产品的外形及结构尺寸仅保留A型，删去原标准的B型和C型；部分耗尽金硅面垒型探测器的分类仅保留最小耗尽层深度为300 μm 一类，而主要性能增加“允许最大噪声”。